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賽默飛FEI掃描電鏡配件耗材代理拔出極

  • 更新時間╃╃│:  2022-09-23
  • 產品型號╃╃│:  4035 273 12631
  • 簡單描述
  • 4035 273 12631賽默飛FEI掃描電鏡配件耗材代理拔出極 Thermo Scientific Prisma E 掃描電鏡 (SEM) 結合了廣泛的成像和分析模式以及先進自動化功能••,和同類儀器相比••,可提供最完整的解決方案││◕。對於工業研發•╃◕▩·、質量控制和失效分析應用領域••,需要一臺具有高分辨成像••,廣泛的樣品相容性••,簡單易用的使用者介面的掃描電鏡••,Prisma E是這類應用的理想選擇││◕。
詳細介紹

聖賓儀器科技(上海)有限公司是一家專注於分析檢測行業的系統性供應商••,一直致力於分析測試技術方面進口儀器的配件耗材供應••,主要優勢經銷代理品牌╃╃│:美國賽默飛世爾(ThermoFisher)原裝配件耗材(比如╃╃│:ICP光譜,ICP-MS質譜,AAS原子吸收光譜, GC-MS氣質,LC-MS液質,ARL直讀光譜ARL3460,ARL4460,ARLiSpark8820/8860/8880),9800/9900X熒光光譜••,同位素質譜••,紅外光譜等儀器備件)••,珀金埃爾默(PerkinElmer)耗材••,美國安捷倫(Agilent)耗材••,美國沃特世(Waters)耗材••,戴安(DIONEX)色譜耗材••,島津(SHIMADZU)耗材••,瑞士萬通(Metrohm)••,CEM耗材等││◕。

4035 273 12631賽默飛FEI掃描電鏡配件耗材代理拔出極

 

賽默飛FEL 部分配件耗材

16830 離子源

4035 273 12631   拔出極

4035 273 6 7441 光闌

4035 272 35991 抑制極

4035 272 35971  拔出極

1058129   拔出極

1301684  Suppressor 抑制極

1096659 Aperture 光闌

1346158  PT

 

環境掃描電鏡

Thermo Scientific Prisma E 掃描電鏡 (SEM) 結合了廣泛的成像和分析模式以及先進自動化功能••,和同類儀器相比••,可提供最完整的解決方案││◕。對於工業研發•╃◕▩·、質量控制和失效分析應用領域••,需要一臺具有高分辨成像••,廣泛的樣品相容性••,簡單易用的使用者介面的掃描電鏡••,Prisma E是這類應用的理想選擇││◕。Prisma E是在前代Quanta SEM基礎上的又一次成功實踐││◕。

 

全面的效能••,強大的附近擴充套件能力••,以及結合Thermo Scientific ChemiSEM 技術所實現最直觀的元素分析能力••,使Prisma E在任何行業或領域都能夠實現微米/亞微米級成像和分析││◕。

 4035 273 12631賽默飛FEI掃描電鏡配件耗材代理拔出極

主要特點

觸手可及的元素資訊

透過選配 ChemiSEM 技術和整合能量色散 X 射線光譜 (EDS) 進行實時成分面分布以實現直觀元素分析││◕。這種始終線上的分析能力可極大提高您的工作效率••,並獲取最完整的樣品資訊││◕。

出色的影象質量

靈活的真空模式以及透過透鏡抽真空技術••,使Prisma E可在低電壓和低真空下獲得出色的影象質量││◕。且在每個操作模式下••,都可實現二級電子 (SE) 和背散射電子 (BSE) 同時成像││◕。

最大限度地減少樣品製備時間

低真空和 ESEM 功能可對非導電和/或含水樣品進行無電荷/或無脫水成像和分析││◕。

對自然狀態下的材料進行原位研究

憑藉 Prisma E 的環境 (ESEM) 模式•╃◕▩·、可在樣品加熱•╃◕▩·、放氣或潮溼的狀態下直接成像││◕。

優異的分析能力

倉室支援最多安裝3 個 EDS 探測器••,其中兩個EDS介面呈180° 對稱••,並可安裝波長色散光譜 (WDS)•╃◕▩·、共面 EDS/EBSD••,並可在低真空模式下實現高質量無電荷 EDS 和 EBSD 分析││◕。

易於使用

操作軟體具有使用者指南和撤消功能••,可以使新手使用者進行高效的操作••,也可極大減少專家級使用者的操作負荷││◕。



規格

引數

· 解析度在高真空•╃◕▩·、低真空和 ESEM 的 30 kV 下為 3.0 nm

·  3 kV(BSED•╃◕▩·、樣品臺減速)下為 7.0 nm

標準檢測器

· ETD•╃◕▩·、低真空 SED (LVD)•╃◕▩·、 ESEM SED (GSED)•╃◕▩·、紅外CCD

可選檢測器

· Thermo Scientific Nav-Cam+ 攝像機•╃◕▩·、DBS•╃◕▩·、DBS-GAD•╃◕▩·、ESEM-GAD•╃◕▩·、STEM 3+•╃◕▩·、WetSTEM•╃◕▩·、RGB-CLD•╃◕▩·、EDS•╃◕▩·、EBSD•╃◕▩·、WDS•╃◕▩·、拉曼•╃◕▩·、EBIC 等

ChemiSEM 技術(可選)

· 可基於能量色散 X 射線光譜 (EDS) 進行實時定量 元素面分佈││◕。包含點分析•╃◕▩·、線掃描•╃◕▩·、面分布及元素定量││◕。

樣品臺減速(可選)

· -4,000 V 至 +50 V

低真空模式

· 高達 2,600 Pa (H2O) 或 4,000 Pa (N2)

樣品臺

· 5軸馬達優中心樣品臺••,110 x 110 mm2••,105° 傾斜範圍││◕。最大樣品重量╃╃│:未傾斜位置••,5 kg││◕。

標準樣品支架

· 標準多樣品 SEM 支架可單獨安裝

· 在載物臺上••,可容納多達 18 個標準樣品託 (⌀ 12 mm)••,

· 無需工具即可安裝樣品

樣品倉

· 340 mm 內寬••,12 個介面••,最多可接三個 EDS 檢測器(兩個呈 180°對稱)••,並具有與共面 EDS共面的EBSD介面││◕。

原位配件(可選)

· 軟體控制的 -20°C 至 +60°C Peltier 冷臺

· 軟體控制的 1,000°C 低真空/ESEM 熱臺

· 軟體控制的 1,100°C 高真空熱臺

· 軟體控制的 1,400°C 低真空/ESEM 熱臺

· 整合氣體注入系統╃╃│:用於下列材料的電子束誘導沉積••,最多支援2種氣體(其他配件可能限制可用的注氣系統 (GIS) 數量)╃╃│:

· 奈米機械手

· 液氮致冷臺

· 電子探針/多探針臺

 






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