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Thermo賽默飛FEI掃描電鏡離子源現貨報價

  • 更新時間◕•▩│:  2022-09-23
  • 產品型號◕•▩│:  16830
  • 簡單描述
  • 16830Thermo賽默飛FEI掃描電鏡離子源現貨報價Thermo Scientific Scios 2 DualBeam 是一套超高解析度的分析 聚焦離子束掃描電子顯微鏡 (FIB-SEM) 系統·◕,可為包括磁性和非導電材料在內的各種樣品提供出色的樣品製備與 3D 表徵效能
詳細介紹

 16830Thermo賽默飛FEI掃描電鏡離子源現貨報價

賽默飛FEL 部分配件耗材

16830 離子源

4035 273 12631   拔出極

4035 273 6 7441 光闌

4035 272 35991 抑制極

4035 272 35971  拔出極

1058129   拔出極

1301684  Suppressor 抑制極

1096659 Aperture 光闌

1346158  PT 

Thermo Scientific Scios 2 DualBeam 是一套超高解析度的分析 聚焦離子束掃描電子顯微鏡 (FIB-SEM) 系統·◕,可為包括磁性和非導電材料在內的各種樣品提供出色的樣品製備與 3D 表徵效能 ₪☁◕•。Scios 2 DualBeam 透過創新的功能設計提高了通量▩↟↟•、精度以及易用性·◕,是滿足科學家和工程師在學術▩↟↟•、政府以及工業研究領域高階研究和分析需求的理想解決方案₪☁◕•。

高質量亞表面和 3D 資訊

通常需要進行亞表面或三維表徵以更好地理解樣品的結構和性質₪☁◕•。Scios 2 DualBeam 及可選配的 Thermo Scientific Auto Slice & View 4 (AS&V4) 軟體可提供高質量▩↟↟•、全自動的多模式 3D 資料集採集·◕,包括用於最大材料對比度的背散射電子 (BSE) 成像▩↟↟•、用於組成資訊的能量色散光譜 (EDS) 以及用於微觀結構和晶體學資訊的電子背散射衍射 (EBSD)₪☁◕•。與 Thermo Scientific Avizo 軟體組合使用後·◕,Scios 2 DualBeam 可為奈米級的高解析度▩↟↟•、高階 3D 表徵以及分析提供的工作流程解決方案₪☁◕•。

以超高解析度提供完整的樣品資訊

創新的 NICol 電子色譜柱為系統的高解析度成像和檢測能力提供了基礎₪☁◕•。它適用於多種工作條件·◕,無論是在 30 keV 的 STEM 模式下(訪問結構資訊)還是以較低能量(獲得無電荷的詳細表面資訊)執行·◕,都可以提供出色的奈米級細節₪☁◕•。Scios 2 DualBeam 具有的鏡筒內 Thermo Scientific Trinity 檢測系統·◕,專用於同時採集角和能量選擇二級電子 (SE) 以及 BSE 成像資料₪☁◕•。不僅可以快速訪問從上到下的詳細奈米級資訊·◕,還可快速訪問傾斜的樣品或交叉切片的資訊₪☁◕•。可選配的透鏡下檢測器和電子束減速模式可以快速▩↟↟•、便捷地同時採集所有訊號·◕,揭示材料表面或交叉切片中最小的特徵₪☁◕•。具有全自動對齊功能的 NICol 色譜柱·◕,可獲得快速▩↟↟•、準確▩↟↟•、可重現的結果₪☁◕•。

快速▩↟↟•、便捷地製備高質量 TEM 樣品

科學家和工程師不斷面臨新的挑戰▩↟↟•、需要對越來越複雜的樣品的更小特徵進行高度區域性表徵₪☁◕•。Scios 2 DualBeam 的創新與可選▩↟↟•、易用和全面的 Thermo Scientific AutoTEM 4 軟體以及賽默飛世爾科技的應用專業知識相結合後·◕,可支援客戶快速方便地製備用於多種材料的 自定義高解析度 S/TEM 樣品₪☁◕•。為了獲得高質量結果·◕,需要使用低能量離子進行最終拋光·◕,以儘可能減少對樣品表面的損壞₪☁◕•。Thermo Scientific Sidewinder HT 聚焦離子束 (FIB) 鏡筒不僅能夠在高電壓下具有高解析度成像和銑削能力·◕,還具有良好的低電壓效能·◕,能夠建立高質量的 TEM 薄片₪☁◕•。

16830Thermo賽默飛FEI掃描電鏡離子源現貨報價

主要特點

快速▩↟↟•、便捷的製備

使用 Sidewinder HT 離子柱獲得高質量▩↟↟•、現場特定的 TEM 和原子探針樣品₪☁◕•。

超高解析度成像

使用在廣泛的樣品範圍(包括磁性和非導電材料)內具有效能的 Thermo Scientific NICol 電子色譜柱₪☁◕•。

最完整的樣品資訊

透過各種整合式色譜柱內和透鏡下檢測器獲得清晰▩↟↟•、精確和無電荷的對比度₪☁◕•。

高質量▩↟↟•、多模式亞表面和 3D 資訊

使用可選配的 AS&V4 軟體·◕,透過精確靶向感興趣區域來獲得高質量▩↟↟•、多模式亞表面和 3D 資訊₪☁◕•。

精確的樣品導航

高度靈活的 110 mm 載物臺和腔室內 Thermo Scientific Nav-Cam 攝像機允許根據具體應用需求進行定製₪☁◕•。

無偽影成像和構成圖案

具有專用模式·◕,如 DCFI▩↟↟•、漂移抑制和 Thermo Scientific SmartScan 模式₪☁◕•。

最佳化您的解決方案

靈活的 DualBeam 配置·◕,包括可選配的最高 500 Pa 腔室壓力低真空模式·◕,可滿足具體的應用要求₪☁◕•。

 




規格

電子束解析度

· 最佳 WD

30 keV STEM 下為 0.7 nm

1 keV 下為 1.4 nm

1 keV(射束減速)下為 1.2 nm

電子束引數空間

· 電子束電流範圍◕•▩│:1 pA 至 400 nA

· 著陸能量範圍◕•▩│:20* eV – 30 keV

· 加速電壓範圍◕•▩│:200 V – 30 kV

· 最大水平射野寬度◕•▩│:7 mm WD 時為 3.0 mm·◕,60 mm WD 時為 7.0 mm

· 可透過標準導航剪輯提供超寬視野 (1×)

離子光學系統

· 加速電壓◕•▩│:500 V – 30 kV

· 電子束電流範圍◕•▩│:1.5 pA – 65 nA

· 15 位置光闌條

· 漂移抑制模式·◕,為非導電樣品的標準模式

· 最小離子源壽命◕•▩│:1,000 小時

· 離子束解析度◕•▩│:選擇角方法下 30kV 時為 3.0 nm

檢測器

· Trinity 檢測系統(鏡筒內和色譜柱內)

T1 分段式下鏡筒內檢測器

T2 上鏡筒內檢測器

T3 可伸縮色譜柱內檢測器(可選配)

多達 4 個同時檢測的訊號

· Everhart-Thornley SE 檢測器 (ETD)

· 用於二級離子 (SI) 和二級電子 (SE) 的高效能離子轉換和電子檢測器 (ICE)(可選配)

· 可伸縮▩↟↟•、低電壓▩↟↟•、高對比度▩↟↟•、分段式▩↟↟•、固態反向散射電子檢測器 (DBS)(可選配)

·  BF/DF/HAADF 分段的可伸縮 STEM 3+ 檢測器(可選配)

· 檢視樣品和腔室的 IR 攝像機

· 腔室內 Nav-Cam 樣品導航攝像機(可選配)

· 整合的光束電流測量

載物臺和樣品

靈活的 5 軸電動平臺◕•▩│:

· XY 範圍◕•▩│:110 mm

· Z 範圍◕•▩│:65 mm

· 旋轉◕•▩│:360°(無限)

· 傾斜範圍◕•▩│:-15° 至 +90°

· XY 重複性◕•▩│:3 μm

· 最大樣品高度◕•▩│:與共心點間距 85 mm

· 0° 傾斜時的最大樣品重量◕•▩│:5 kg (包括樣品架)

· 最大樣品尺寸◕•▩│:*旋轉時 110 mm(也可以是更大的樣品·◕,但旋轉有限)

· 計算中心旋轉和傾斜

 




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