16830Thermo賽默飛FEI掃描電鏡離子源現貨報價
賽默飛FEL 部分配件耗材
16830 離子源
4035 273 12631 拔出極
4035 273 6 7441 光闌
4035 272 35991 抑制極
4035 272 35971 拔出極
1058129 拔出極
1301684 Suppressor 抑制極
1096659 Aperture 光闌
1346158 PT
Thermo Scientific Scios 2 DualBeam 是一套超高解析度的分析 聚焦離子束掃描電子顯微鏡 (FIB-SEM) 系統·◕，可為包括磁性和非導電材料在內的各種樣品提供出色的樣品製備與 3D 表徵效能 ₪☁◕•。Scios 2 DualBeam 透過創新的功能設計提高了通量▩↟↟•、精度以及易用性·◕，是滿足科學家和工程師在學術▩↟↟•、政府以及工業研究領域高階研究和分析需求的理想解決方案₪☁◕•。
通常需要進行亞表面或三維表徵以更好地理解樣品的結構和性質₪☁◕•。Scios 2 DualBeam 及可選配的 Thermo Scientific Auto Slice & View 4 (AS&V4) 軟體可提供高質量▩↟↟•、全自動的多模式 3D 資料集採集·◕，包括用於最大材料對比度的背散射電子 (BSE) 成像▩↟↟•、用於組成資訊的能量色散光譜 (EDS) 以及用於微觀結構和晶體學資訊的電子背散射衍射 (EBSD)₪☁◕•。與 Thermo Scientific Avizo 軟體組合使用後·◕，Scios 2 DualBeam 可為奈米級的高解析度▩↟↟•、高階 3D 表徵以及分析提供的工作流程解決方案₪☁◕•。
創新的 NICol 電子色譜柱為系統的高解析度成像和檢測能力提供了基礎₪☁◕•。它適用於多種工作條件·◕，無論是在 30 keV 的 STEM 模式下（訪問結構資訊）還是以較低能量（獲得無電荷的詳細表面資訊）執行·◕，都可以提供出色的奈米級細節₪☁◕•。Scios 2 DualBeam 具有的鏡筒內 Thermo Scientific Trinity 檢測系統·◕，專用於同時採集角和能量選擇二級電子 (SE) 以及 BSE 成像資料₪☁◕•。不僅可以快速訪問從上到下的詳細奈米級資訊·◕，還可快速訪問傾斜的樣品或交叉切片的資訊₪☁◕•。可選配的透鏡下檢測器和電子束減速模式可以快速▩↟↟•、便捷地同時採集所有訊號·◕，揭示材料表面或交叉切片中最小的特徵₪☁◕•。具有全自動對齊功能的 NICol 色譜柱·◕，可獲得快速▩↟↟•、準確▩↟↟•、可重現的結果₪☁◕•。
科學家和工程師不斷面臨新的挑戰▩↟↟•、需要對越來越複雜的樣品的更小特徵進行高度區域性表徵₪☁◕•。Scios 2 DualBeam 的創新與可選▩↟↟•、易用和全面的 Thermo Scientific AutoTEM 4 軟體以及賽默飛世爾科技的應用專業知識相結合後·◕，可支援客戶快速方便地製備用於多種材料的 自定義高解析度 S/TEM 樣品₪☁◕•。為了獲得高質量結果·◕，需要使用低能量離子進行最終拋光·◕，以儘可能減少對樣品表面的損壞₪☁◕•。Thermo Scientific Sidewinder HT 聚焦離子束 (FIB) 鏡筒不僅能夠在高電壓下具有高解析度成像和銑削能力·◕，還具有良好的低電壓效能·◕，能夠建立高質量的 TEM 薄片₪☁◕•。
16830Thermo賽默飛FEI掃描電鏡離子源現貨報價
主要特點
快速▩↟↟•、便捷的製備
使用 Sidewinder HT 離子柱獲得高質量▩↟↟•、現場特定的 TEM 和原子探針樣品₪☁◕•。
使用在廣泛的樣品範圍（包括磁性和非導電材料）內具有效能的 Thermo Scientific NICol 電子色譜柱₪☁◕•。
透過各種整合式色譜柱內和透鏡下檢測器獲得清晰▩↟↟•、精確和無電荷的對比度₪☁◕•。
使用可選配的 AS&V4 軟體·◕，透過精確靶向感興趣區域來獲得高質量▩↟↟•、多模式亞表面和 3D 資訊₪☁◕•。
高度靈活的 110 mm 載物臺和腔室內 Thermo Scientific Nav-Cam 攝像機允許根據具體應用需求進行定製₪☁◕•。
具有專用模式·◕，如 DCFI▩↟↟•、漂移抑制和 Thermo Scientific SmartScan 模式₪☁◕•。
靈活的 DualBeam 配置·◕，包括可選配的最高 500 Pa 腔室壓力低真空模式·◕，可滿足具體的應用要求₪☁◕•。
規格
電子束解析度 | · 最佳 WD o 在 30 keV STEM 下為 0.7 nm o 在 1 keV 下為 1.4 nm o 在 1 keV（射束減速）下為 1.2 nm |
電子束引數空間 | · 電子束電流範圍◕•▩│：1 pA 至 400 nA · 著陸能量範圍◕•▩│：20* eV – 30 keV · 加速電壓範圍◕•▩│：200 V – 30 kV · 最大水平射野寬度◕•▩│：7 mm WD 時為 3.0 mm·◕，60 mm WD 時為 7.0 mm · 可透過標準導航剪輯提供超寬視野 (1×) |
離子光學系統 | · 加速電壓◕•▩│：500 V – 30 kV · 電子束電流範圍◕•▩│：1.5 pA – 65 nA · 15 位置光闌條 · 漂移抑制模式·◕，為非導電樣品的標準模式 · 最小離子源壽命◕•▩│：1,000 小時 · 離子束解析度◕•▩│：選擇角方法下 30kV 時為 3.0 nm |
檢測器 | · Trinity 檢測系統（鏡筒內和色譜柱內） o T1 分段式下鏡筒內檢測器 o T2 上鏡筒內檢測器 o T3 可伸縮色譜柱內檢測器（可選配） o 多達 4 個同時檢測的訊號 · Everhart-Thornley SE 檢測器 (ETD) · 用於二級離子 (SI) 和二級電子 (SE) 的高效能離子轉換和電子檢測器 (ICE)（可選配） · 可伸縮▩↟↟•、低電壓▩↟↟•、高對比度▩↟↟•、分段式▩↟↟•、固態反向散射電子檢測器 (DBS)（可選配） · 帶 BF/DF/HAADF 分段的可伸縮 STEM 3+ 檢測器（可選配） · 檢視樣品和腔室的 IR 攝像機 · 腔室內 Nav-Cam 樣品導航攝像機（可選配） · 整合的光束電流測量 |
載物臺和樣品 | 靈活的 5 軸電動平臺◕•▩│： · XY 範圍◕•▩│：110 mm · Z 範圍◕•▩│：65 mm · 旋轉◕•▩│：360°（無限） · 傾斜範圍◕•▩│：-15° 至 +90° · XY 重複性◕•▩│：3 μm · 最大樣品高度◕•▩│：與共心點間距 85 mm · 0° 傾斜時的最大樣品重量◕•▩│：5 kg （包括樣品架） · 最大樣品尺寸◕•▩│：*旋轉時 110 mm（也可以是更大的樣品·◕，但旋轉有限） · 計算中心旋轉和傾斜 |
聯絡QQ◕•▩│：627718824
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